Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

Bustos Rodríguez, Humberto; Oyola Lozano, Dagoberto; Rojas Martínez Yebrail Antonio

Publicación:
Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

dc.contributor.author	Bustos Rodríguez, Humberto
dc.contributor.author	Oyola Lozano, Dagoberto
dc.contributor.author	Rojas Martínez Yebrail Antonio
dc.contributor.corporatename	Grupo de Investigación Ciencia de Materiales de la Universidad del Tolima
dc.date.accessioned	2024-06-17T12:47:25Z
dc.date.available	2024-06-17T12:47:25Z
dc.date.issued	2024
dc.description	Este libro de investigación en Ciencia-Física está dedicado al estudio de muestras auríferas tomadas de suelos minerales colombianos. El texto se considera útil para alumnos avanzados de Ciencias-Física, de Geología e ingeniería que estén familiarizados con la Ciencia de la Tierra. Constituye una guía para investigadores para realizar procesos investigativos con muestras tomadas en suelos agrícolas o auríferos. El texto inicia con una exposición acerca de generalidades de la difracción de rayos X, el método Rietveld y su base matemática, los cuales van a conducir a evaluar la calidad del refinamiento de los parámetros estructurales medidos y de las fases minerales obtenidas. Para conocer las propiedades electrónicas de las fases obtenidas en las muestras de estudio se hace una presentación teórica acerca de la emisión y absorción resonante de rayos g base de la espectrometría Mössbauer, necesaria para entender acerca de los parámetros hiperfinos como el desvío isomérico (d), el desdoblamiento cuadrupolar eléctrico (QS) y el Campo magnético hiperfino (H). El texto también hace un análisis teórico de espectrometría de masa de iones secundarios, comenzando desde el bombardeo del haz de iones, reconociendo los parámetros del efecto de sputering hasta teorizar acerca de la distribución de energía del ión secundario y su rendimiento. Además, hace una presentación de la instrumentación SIMS desde las fuentes de iones primarios y secundarios hasta abarcar los diferentes detectores de iones. El libro continua con las bases teóricas de Espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente – Microsonda de ablación laser (LAM-ICP-MS), hace una introducción sobre las bondades y precisión de ésta combinación de técnicas, los sistemas de vacío utilizados, las fuentes de ión como el plasma acoplado inductivamente y los diferentes detectores y analizadores de masa necesarios en la implementación de ésta técnica. La parte principal de éste texto la constituye el capítulo donde los autores presentan la metodología y los resultados experimentales.
dc.description.abstract	Microscopía óptica, Difracción de Rayos X (XRD), Espectroscopia Mössbauer(MS), Espectrometría de masa de iones secundarios (SIMS) y Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente y Microsonda de ablación láser (LAM-ICP-MS) fueron usados para estudiar muestras minerales de menas auríferas colombianas. Las menas fueron seleccionadas de la mina El Diamante, localizada en el municipio de Guachavez-Nariño (Colombia) y las muestras fueron preparadas como secciones pulidas y secciones delgadas pulidas. El análisis petrográfico fue hecho utilizando un microscopio óptico con una cámara de visión, registrando la presencia en diferentes porcentajes, de las siguientes fases: cuarzo, pirita, arsenopirita, esfalerita y calcopirita. Por análisis XRD, fases como el cuarzo, esfalerita y pirita fueron detectadas y sus respectivos parámetros de red fueron calculados utilizando el programa de ajuste MAUD. Por MS se detectaron las fases de pirita, arsenopirita y calcopirita y utilizando el programa de ajuste MOSFIT se hallaron sus respectivos parámetros Hiperfinos. Regiones múltiples de aproximadamente 200 mm x 200 mm de área en cada muestra mineral fue analizada por SIMS, registrando la presencia de “oro invisible” asociado principalmente con la pirita y secundariamente con la arsenopirita. Áreas de 30 mm a 40 mm de diámetro fueron analizadas por LAM-ICP-MS sobre pirita, arsenopirita y esfalerita, se observa que el Au está “homogéneamente” dentro de la estructura de la pirita arseniosa y la arsenopirita (no se presenta como inclusiones), no ocurre dentro de la esfalerita; la afinidad química del “oro invisible” es con la pirita arseniosa y con la arsenopirita y es disuelto (en solución sólida) dentro de las respectivas estructuras.
dc.description.edition	1ª. Ed.
dc.description.tableofcontents	Presentación Introducción Capítulo 1. Difracción de rayos X Capítulo 2. Espectroscopia Mössbauer Capítulo 3. Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) Capítulo 4. Microsonda ablación láser - espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente (Lam-Icp-Ms) Capítulo 5. Metodología y resultados Capítulo 6. Conclusiones Perspectivas y recomendaciones Referencias bibliográficas
dc.format.extent	173 p.
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.identifier.eisbn	978-628-7670-69-3
dc.identifier.isbn	978-628-7670-67-9
dc.identifier.uri	https://repository.ut.edu.co/handle/001/3850
dc.publisher	Sello Editorial Universidad del Tolima
dc.publisher.place	Ibagué-Tolima, Colombia
dc.relation.citationedition	1ª. Ed.
dc.rights	Todos los derechos reservados. Prohibida su reproducción total o parcial por cualquier medio, sin autorización expresa del titular del derecho de autor.
dc.rights.accessrights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.coar	http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
dc.rights.license	Atribución-NoComercial 4.0 Internacional (CC BY-NC 4.0)
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/
dc.subject.ddc	530 - Física::535 - Luz y radiación relacionada
dc.subject.lem	Física
dc.subject.proposal	Oro invisible
dc.subject.proposal	Espectrometría Mössbauer
dc.subject.proposal	Mineralogía determinativa
dc.title	Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales
dc.type	Libro
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dspace.entity.type	Publication